Sistema de teste automático de componentes eletrónicos

Abstract

Este projeto teve como objetivo o desenvolvimento de um Sistema de Teste Automático de Componentes Eletrónicos, focado na verificação de portas lógicas utilizando o microcontrolador ESP32-S3 e uma configuração de relés. A motivação principal foi criar uma solução prática e eficiente para testar a funcionalidade de circuitos lógicos, algo essencial em ambientes escolares e industriais, onde o correto funcionamento de componentes eletrónicos é essencial. O sistema foi realizado para testar portas lógicas da família 74LS, especificamente as portas AND, OR, XOR, NAND, NOR, XNOR e NOT. Para isso foram utilizados relés como elementos de comutação, controlados pelo ESP32, para configurar as entradas e saídas de cada porta lógica. Esta solução permitiu a criação de um sistema flexível, capaz de realizar testes automáticos sem necessidade de modificar a configuração física entre diferentes testes de portas. O projeto incluiu a utilização de diversos componentes eletrónicos, tais como díodos, transístores BC546C, relés SRD-05VDC-SL-C, e circuitos integrados da série 74HCT00. A escolha do ESP32-S3, devido à sua capacidade de lidar com múltiplos pinos de entrada/saída e a sua compatibilidade com o ambiente de desenvolvimento Arduino IDE, foi essencial para a implementação prática. O sistema foi testado com sucesso, e os resultados mostraram que a solução desenvolvida é eficaz para identificar o estado de funcionamento das portas lógicas. O teste de cada porta lógica foi realizado com precisão, confirmando se as portas estavam a funcionar corretamente conforme a sua tabela verdade. Abstract : This project aimed to develop an Automatic Testing System for Electronic Components, focused on verifying logic gates using the ESP32-S3 microcontroller and a relay configuration. The main motivation was to create a practical and efficient solution to test the functionality of logic circuits, something essential in both academic and industrial environments, where the correct operation of electronic components is critical. The system was designed to test logic gates from the 74LS family, specifically the AND, OR, XOR, NAND, NOR, XNOR, and NOT gates. To achieve this, relays were used as switching elements, controlled by the ESP32, to configure the inputs and outputs of each logic gate. This solution allowed the creation of a flexible system, capable of performing automatic tests without the need to modify the physical configuration between different gate tests. The project involved the use of various electronic components, such as diodes, BC546C transistors, SRD-05VDC-SL-C relays, and integrated circuits from the 74HCT00 series. The choice of the ESP32-S3, due to its ability to handle multiple input/output pins and its compatibility with the Arduino IDE development environment, was essential for practical implementation. The system was successfully tested, and the results showed that the developed solution is effective in identifying the operational state of logic gates. Each gate was tested with precision, confirming whether the gates were functioning correctly according to their truth table.